規格番号: YB/T 172-2020(YB/T172-2020)
中国語:硅砖定量相分析 X射线衍射法
日本語:シリカレンガX線回折法による定量的相解析
発効日:2021-04-01
標準の適用範囲:本標準はシリカレンガ中のα-石英のX線回折法による定量的位相分析の原理、装置、標準試料、試料の前処理、標準曲線の確立、試験手順、結果と計算及び試験報告書について規定する。本標準はシリカレンガ中のα-石英の定量位相分析に適用し、扁平石英及びシリカレンガ中の石英の定量位相分析も本標準を参照することができる。
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