規格番号: SJ/T 10482-1994(SJ/T10482-1994)
中国語:半导体深能级的瞬态电容测试方法
日本語:半導体の深いエネルギー準位のための過渡容量試験法
発効日:1994-10-01
標準の適用範囲:
PDF ダウンロード可能: N
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