規格番号: GB/T 4937.4-2012
中国語:半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
日本語:半導体デバイス-機械的および気候的試験方法-第4部：湿熱、定常状態、高加速ストレス試験（HAST）
発効日:2013-02-15
規制機関:工业和信息化部（电子）
発行規制機関:中華人民共和国品質監督検査検疫総局,中国標準化管理局（SAC）
国際規格に準拠:Y
PDF ダウンロード可能:N
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