GB/T 4937.17-2018 半導体デバイス-機械的および気候的試験方法-第17部:中性子照射

規格番号: GB/T 4937.17-2018
中国語:半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分:中子辐照
日本語:半導体デバイス-機械的および気候的試験方法-第17部:中性子照射

発効日:2019-01-01
規制機関:工业和信息化部(电子)
発行規制機関:国家市場監督管理総局,中国標準化管理局(SAC)

国際規格に準拠:Y
PDF ダウンロード可能:N

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